AES/SAM

Scanning-Auger-Mikrosonde für quantitative Punktanalysen elektrisch leitender Oberflächen von Festkörpern. Das Verfahren liefert Tiefenprofile und Elementverteilungsbilder mit hoher örtlicher Auflösung.

Weitere Verfahren stehen nach Bedarf zur Verfügung. Bitte nehmen Sie Kontakt zu uns auf, falls Sie Fragen haben. Wir helfen Ihnen jederzeit gern weiter und informieren Sie genauer über die verschiedenen Verfahrensarten und Vorgehensweisen.

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