SIMS

Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie für qualitative und halbquantitative Informationen über die Orts- und Tiefenverteilungen, sowie zum Spurennachweis.

Weitere Verfahren stehen nach Bedarf zur Verfügung. Bitte nehmen Sie Kontakt zu uns auf, falls Sie Fragen haben. Wir helfen Ihnen jederzeit gern weiter und informieren Sie genauer über die verschiedenen Verfahrensarten und Vorgehensweisen.

nach oben | zurück